二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種用于模擬材料、零部件或產(chǎn)品在不同溫度變化環(huán)境下的性能測(cè)試設(shè)備。它包含兩個(gè)相互獨(dú)立的測(cè)試箱，一個(gè)用于低溫冷卻，另一個(gè)用于高溫加熱，通過(guò)將樣品迅速轉(zhuǎn)移到不同溫度環(huán)境中來(lái)模擬溫度沖擊。
該試驗(yàn)機(jī)具有以下主要特點(diǎn)和功能：
1、兩個(gè)測(cè)試箱：一個(gè)用于低溫環(huán)境，一個(gè)用于高溫環(huán)境，兩者相互隔離。
2、控制系統(tǒng)：設(shè)備配備了*的控制系統(tǒng)，可精確控制溫度和溫度變化速率。
3、溫度范圍：可以根據(jù)需要選擇不同的溫度范圍，通常可以覆蓋從極低溫到高溫的范圍。
4、沖擊方式：可根據(jù)需求選擇氣體沖擊、液體沖擊或機(jī)械沖擊等方式進(jìn)行溫度轉(zhuǎn)換。
5、安全性能：設(shè)備通常具有安全保護(hù)功能，如過(guò)溫保護(hù)、壓力保護(hù)和電路故障保護(hù)等。
6、數(shù)據(jù)記錄和分析：一些二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)配備了數(shù)據(jù)記錄和分析系統(tǒng)，可對(duì)測(cè)試過(guò)程進(jìn)行監(jiān)控和記錄，并生成相應(yīng)的測(cè)試報(bào)告。
目前愛(ài)佩公司生產(chǎn)的二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)主要銷往于這些工業(yè)：光電、LED、顯示器、顯示屏、軍工，航天，航空，手機(jī)連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC連接器，電感器、電腦連接器，電源連接器，信號(hào)連接器，濾波器、變壓器，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機(jī)，電腦，太陽(yáng)能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。這些大型產(chǎn)品使用此試驗(yàn)箱的好算就是不用切割，不用拆封及分體分量試驗(yàn)。
二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)基本參數(shù)：
溫度范圍：(A=-40℃,B= -55℃,C=-65℃℃)～+100℃(+150℃)
熱銷的型號(hào)有2AP-CJ-80A 2AP-CJ-150A系列：
試驗(yàn)架尺寸(W×H×D)：200mm×130mm×200mm 50mm×280mm×350mm
低溫槽尺寸(W×H×D)：400mm×500mm×400mm 55mm×650mm×550mm
高溫槽尺寸(W×H×D)mm：400mm×400mm×400mm 550mm×550mm×550mm
3AP-CJ-50A 3AP-CJ-150A AP-CJ-225A系列：
內(nèi)箱尺寸(W×H×D)mm：350×350×400 500×400×400 600×500×500 750×600×500
外箱尺寸(W×H×D)mm：1450×1950×1600 1550×2050×1600 1650×2150×1800 1850×2200×1800
樣品架承重量：2.5kg或者5.0kg(也可非標(biāo)定制)
低溫槽溫度上升時(shí)間：40min 80min
低溫槽溫度下降時(shí)間：70min 80min 90min
高溫槽溫度：60℃~200℃
低溫槽溫度：-55℃~-10℃
試物移動(dòng)時(shí)間：10秒鐘內(nèi)
控制方式：微電腦控制+PID+SSR
冷媒：杜邦環(huán)保冷媒HFC
安全裝置：超溫保護(hù)，壓縮機(jī)過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置，控制系統(tǒng)過(guò)載保護(hù)，高低壓保護(hù)開(kāi)關(guān)
內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼，此不銹鋼具有良好的耐蝕性、耐熱性，低溫強(qiáng)度和機(jī)械特性；沖壓、彎曲等熱加工性好，無(wú)熱處理硬化現(xiàn)象(無(wú)磁性，使用溫度-196℃～800℃)
外箱材質(zhì)：優(yōu)勢(shì)鋼板鍍鋅防銹處理，外附高級(jí)樹(shù)脂烤漆涂裝，不易脫落，不易變色，經(jīng)久耐用，高檔美觀。
滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GJB150.3A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB367.2-1987 軍通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
產(chǎn)品型號(hào)2AP-CJ-80A
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